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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

  • 化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):CI8
    LODAS™ – CI8是列真株式會(huì)社推出的一款化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
    型號(hào): CI8 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    化合物半導(dǎo)體SiC、GaN檢查裝置
    2024/11/9 14:57:433282
  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
    型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 15:52:291041
  • iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備,利用STI的2D/3D視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng),采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷;True 3D技術(shù),...
    型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    長(zhǎng)川晶圓檢測(cè)iFocus晶圓缺陷檢測(cè)STI
    2024/11/9 15:34:221392
  • FPD Photomask缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – LI系列
    LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì)社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    FPD Photomask缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:02:361258
  • GlassWafe缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – BI12
    LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    GlassWafe缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:00:061154
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – BI8
    LODAS™ – BI8是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:56:081334
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – AI50/100
    LODAS™ – AI50/100是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:54:301396
  • 微流控缺陷檢測(cè) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測(cè) Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個(gè)面,或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場(chǎng),暗場(chǎng),正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號(hào): Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    微流控缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 14:22:117992
  • 晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過(guò)程開(kāi)發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個(gè)掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且,隨...
    型號(hào): Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 14:14:143540

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